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X射线镀层测厚仪

                                     

 

 

主要应用范围 

材料分析和镀层厚度测量,范围从元素铝(Z=13)至铀(Z=92) 

产品特点 

操作容易,快速;人手定位样品。配备多种准直器确保有高强度讯号。配备6个滤波片。 

标准软件 

WinFTM® V.6;PDM 

测量方向 

由下至上 

X-射线管 

微焦距;可加NiAl滤片;可编程节能功能 

准直器 

4个圆形准直器;圆形:直径0.2mm/0.6mm/1mm/2mm 

软件控制,马达调节 

最小测量面积 

直径;0.3mm 

有效对焦范围 

2 mm 

接收器 

高能量解像度半导体接收器 

测量台 

固定测量台 

放置样品及定位 

样品可直接放在测量台上定位 

测量室 

全封闭,向上开盖式 

测量室尺寸 

W X D X H(mm):380 X 576 X 340 

测量尺寸 

W X D X H(mm):318 X 203 X 86 

测量室 

大容量,配备固定及可更换的样品支架 

测量样品的最大重量 

2KG 

测量点对焦 

利用旋钮视觉对焦 

放大倍数 

光学变倍:34-46X;放大倍数:1-4;最大范围:34-184X 

能量分辨率 

180ev 

脉冲处理器 

超快数字脉冲处理器 

最大脉冲率/秒 

100,000 

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